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热物性测试仪对薄膜测量的使用要求

作者:热物性测试仪 发布时间:2018-05-20 浏览次数:1885

热物性测试仪对薄膜测量的使用要求

  热物性测试仪根据测量物品的种类不同,有很多的类别。其中,在薄膜材料中,也有应用。下面,小编来介绍下。

  当薄(bo)膜(mo)很(hen)薄(bo)时(shi),同(tong)样(yang)材料(liao),薄(bo)膜(mo)状(zhuang)态与容积(ji)状(zhuang)态下(xia)的物(wu)性(xing)有可能不同(tong),因此热物(wu)性(xing)测试(shi)仪对薄(bo)膜(mo)物(wu)性(xing)的测量,必须在(zai)薄(bo)膜(mo)状(zhuang)态下(xia)进行。

  根据被(bei)测物(wu)体的表面温(wen)度(du),按正(zheng)余弦(xian)规律变(bian)化时的瞬(shun)态实(shi)验模型,热物(wu)性测试仪(yi)采用温(wen)度(du)波法来完成薄(bo)膜材料(liao)热物(wu)性参(can)数的测试。

  在这(zhei)一状(zhuang)态下,当(dang)样品(pin)温度(du)振荡(dang)频率达到一定值后,利用(yong)样品(pin)上(shang)、下表面温度(du)的相(xiang)位差(cha),计算出(chu)其导温系(xi)数或导热(re)系(xi)数。